產(chǎn)品中心

Product center

  1. 2021

    4-15

    日本seiwaopt近紅外鹵素?zé)艄庠醇夹g(shù)SIS-150(-NIR/-AIR)近紅外輻射設(shè)備一種在近紅外區(qū)域具有峰值的光纖光源設(shè)備。通過將其與專yong光學(xué)系統(tǒng)和對(duì)近紅外區(qū)域敏感的相機(jī)配合使用,它非常適合無損檢測(cè),例如Si晶圓的內(nèi)部檢測(cè)和背面...

  2. 2021

    4-14

    日本環(huán)氧樹脂收縮應(yīng)力測(cè)量技術(shù)大量的半導(dǎo)體封裝被安裝在諸如移dong電話和膝上型計(jì)算機(jī)之類的信息終端設(shè)備中使用的半導(dǎo)體產(chǎn)品上。些半導(dǎo)體封裝中,IC芯片用作為熱固性樹脂的環(huán)氧樹脂密封,填充在IC芯片和印刷電路板之間并固化,這對(duì)于確保電子部件的強(qiáng)...

  3. 2021

    4-14

    什么是停止性能測(cè)量設(shè)備?日本inoden井上電子IDST-D型停止性能測(cè)量設(shè)備是一種用于測(cè)量并顯示具有突然停止機(jī)構(gòu)的動(dòng)力壓床突然停止時(shí)的最大停止時(shí)間以及此時(shí)的慣性下降值的設(shè)備。特征易于設(shè)置,可以快速工作。讀取機(jī)器行程并自動(dòng)設(shè)置停止輸出位置。...

  4. 2021

    4-14

    日本電測(cè)densoku多點(diǎn)同時(shí)測(cè)??量渦流膜厚儀技術(shù)多點(diǎn)同時(shí)測(cè)定渦電流式膜厚計(jì)本體1臺(tái)で多點(diǎn)を同時(shí)に測(cè)定します。多點(diǎn)同時(shí)測(cè)定渦電流式膜厚計(jì)の特長(zhǎng)?多點(diǎn)を同時(shí)に測(cè)定?測(cè)定時(shí)間3秒?50~100點(diǎn)の同時(shí)測(cè)定が可能多點(diǎn)同時(shí)測(cè)定渦電流式膜厚計(jì)製品一...

  5. 2021

    4-14

    日本伊原電子ihara黑白透射式密度計(jì)T5plus介紹IharaT5Plus是一款黑白透射密度計(jì),內(nèi)置小型光臺(tái),可以準(zhǔn)確定位。可測(cè)量密度、正網(wǎng)點(diǎn)%、負(fù)網(wǎng)點(diǎn)%和透射率。IharaT5Plus透射密度計(jì)特點(diǎn):測(cè)量膠片,薄膜材料等密度測(cè)量范圍:0...

  6. 2021

    4-14

    日本淺田鐵工行星攪拌機(jī)技術(shù)高粘度產(chǎn)品可在短時(shí)間內(nèi)捏合由于兩個(gè)葉片的行星運(yùn)動(dòng),因此沒有死角,可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行捏合。?特征可以從低粘度到高粘度捏合攪拌的物料的粘度越高,低速葉片的工作負(fù)荷對(duì)攪拌的物料的影響就越大,因此,相對(duì)于容器直徑的間隙變窄...

  7. 2021

    4-13

    日本紫外線固化技術(shù)解析什么是紫外線(UV)固化?由預(yù)聚物,單體,光聚合引發(fā)劑和添加劑組成的紫外線(UV)固化樹脂用200至400nm波長(zhǎng)的光照射,即短時(shí)間(幾秒到幾秒)。數(shù)十秒)。)是固化的方法。一種。紫外線(UV)通常是指波長(zhǎng)為100至4...

  8. 2021

    4-13

    面包激光體積計(jì)如何建立外觀模型?-食品激光體積計(jì)AR-01非定形立體(ぱん?菓子等)を簡(jiǎn)単な操作で即座に體積や寸法(縦?橫?高さ)及び重量?比容積(オプション)を帳表畫面上に得られます。特にパン食品業(yè)界向けには「縦橫比?こしもち」の計(jì)算も瞬...

  9. 2021

    4-13

    用于茶葉水分檢測(cè)的近紅外技術(shù)-近紅外水分儀KJT-130KJT-130はハンディタイプの近赤外線水分計(jì)で、手持ち測(cè)定の他、オプションの支持臺(tái)を使用し卓上タイプとしても使用できますので、測(cè)定場(chǎng)所の制約を受けません。窯業(yè)やセラミックス関連の水分...

  10. 2021

    4-13

    用于分析大米品質(zhì)設(shè)備-穀粒判別器RN-700私たちケツト科學(xué)研究所は、1984年より米粒判定器の開発を重ね、おかげさまで當(dāng)時(shí)よりその先進(jìn)性に高い評(píng)価をいただいております。新器種を開発するたびに、それまで培ってきた光學(xué)識(shí)別方式を常に洗練させて...

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